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粉尘中游离二氧化硅质量控制样品(粉尘游离二氧化硅质控样,无需加氢氟酸处理)
ID 产品编号 名称 英文名 CAS编号 产地 规格 询问
528500 ZW503/ZW504 粉尘中游离二氧化硅质量控制样品(粉尘游离二氧化硅质控样,无需加氢氟酸处理) 卫健委 2支/套 咨 询
详细描述:(样板仅参考,具体需参照对应批次证书)

一、适用范围和使用方法

本质量控制样品适用于焦磷酸法测定粉尘中游离二氧化硅时对操作人员的操作过程进行质量控制,保证结果的准确性。

二、制备方法

取一定量的粉尘,100℃烘干后,过200目筛子,充分混匀后分装制备而成。

三、样品保存和有效期

本质量控制样品自定值日期起,有效期为两年。

四、参考值范围

本质量控制样品由多家单位进行定值,确定参考值范围。(以下值仅参考,具体需参照对应批次证书

编号 名称 参考值范围(%)
ZW503-01 粉尘中游离二氧化硅 17.6±1.8
ZW504-01 37.9±6.3

五、均匀性和稳定性

样品均匀性:在制备好的样品中随机抽取10%的样品进行检测,结果显示研制的粉尘中游离二氧化硅质量控制样品均匀性良好。

样品稳定性:不同天内在相同条件下,对随机抽取的样品使用焦磷酸法进行稳定性检验,结果显示样品的稳定性良好。本质量控制样品有效期暂定为两年。

六、注意事项

1. 在检测本质量控制样品时,无需加氢氟酸处理。

2. 本质量控制样品主要用于对检测过程中的操作进行质量控制。

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