本标准物质主要用于铜铟镓硒薄膜元素组成分析仪器（如 X 射线光电子能谱仪等）的校准、分析方法的确认与评价以及测量质量控制等。
一、 样品制备
本标准物质通过共蒸镀法将铜、铟、镓和硒元素沉积在玻璃基底上成批制备而成，切割形成正方形片状样品（ 10 mm×10 mm×2 mm）。
二、 溯源性及定值方法
本标准物质的量值为铜铟镓硒薄膜中铜、铟、镓、硒的原子分数（等同于摩尔分数），采用电感耦合等离子体发射光谱方法（ ICP-OES）多家实验室合作定值，以 6 家实验室定值结果的总平均值作为标准值。通过以量值具有溯源性保证的美国 NIST 标准物质（ SRM 3114、SRM3124a、SRM3119a、 SRM3149） 作 为校 准物 ， 使用 经确 认 的定 值测 量 程序 和经 检 定 /校准 的天 平 等计量器具，确保量值最终溯源至物质的量的 SI 基本单位摩尔（ mol）。
三、 特性量值及不确定度
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编 号
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名 称
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量值及不确定度
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原子分数（×10-2）
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Cu
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In
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Ga
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Se
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GBW(E)130664
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铜铟镓硒薄膜原子分数标准物质
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标准值
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23.5
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16.63
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9.32
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50.5
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扩展不确定度（k = 2）
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1.1
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0.83
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0.53
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1.5
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标准值的不确定度由定值测量程序、多家实验室定值测量结果的分散性、标准物质均匀性和稳定性等引入的不确定度分量组成。
四、 均匀性及稳定性评估
参照 JJF 1343 国家计量技术规范（等效 ISO 指南 35），采用 ICP-OES 检测方法，按照随机抽取原则对样品进行均匀性评估，评估结果表明样品均匀性良好；采用 ICP-OES 检测方法，对样品进行稳定性评估，评估结果表明样品稳定性良好。本标准物质自定值日期起有效期 36 个月，研制单位将继续跟踪监测该标准物质的稳定性，有效期内如发现量值变化，将及时通知用户。
五、 包装、贮存及使用
本标准物质固定放置在氟化聚丙烯圆盒中，圆盒真空密封包装于铝箔袋中，每盒 1 片。标准物质应贮存在阴凉干燥的室温环境中，运输和保存过程中必须保持包装的完整。使用过程中必须保证样品表面清洁。可采用惰性气体轻吹方法进行清洁。