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产品信息
编号:GBW02143 英文:
名称:高纯硅纯度标准物质(硅标准物质、硅粉、高纯硅片、高纯硅板) 品牌:计量院
CAS:7440-21-3 分类:基础标准物质
包装 规格 库存 售价 数量
1片/盒 40mm×4mm,(99.9995±0.000003)% 10 11700.0 加入购物车
详细描述:(样板仅参考,具体需参照对应批次证书)

本标准物质是以天然硅为原料,主要用于高纯硅的纯度分析校正,检验纯度分析方法的可靠性, 保证硅标准物质溶液制备原料纯度的可靠性和溯源性,用以提高硅标准物质溶液浓度定值和硅含量 分析的技术水平,满足化学计量和高纯硅纯度分析等领域的需求。

一、样品制备

选取杂质分布均匀的高纯天然硅片,均匀性初检合格后用洁净、带盖的塑料盒分装。

二、溯源性及定值方法

定值前,样品按规定步骤进行清洗,再进行称量。采用辉光放电质谱法(GDMS)、惰性气体熔融-红外热导法、燃烧红外法等多种方法对其中的 94 种杂质含量进行测量,重量扣除后得到硅的化 学纯度。方法的准确度通过国际比对 CCQM-P149(锌纯度测定)进行了验证,并通过使用满足计量 学特性要求的测量方法和计量器具,保证标准物质特性量值的溯源性。

三、特性量值及不确定度

硅纯度认定值的不确定度评定涵盖了全部测量流程,包括校正样品、称重、空白、所使用标准物质等方面引入的不确定度,以及该标准物质的不均匀性和不稳定性引入的不确定度。 硅化学纯度量值为:(99.9995 ± 0.0003)%,k=2;硅中杂质元素含量(参考值)见附表。

四、均匀性检验及稳定性考察

按照 JJF1343-2012《标准物质定值的通用原则及统计学原理》要求,对该标准物质随机抽样进 行均匀性检验和稳定性监测。用 F 检验法进行样品的均匀性检验;用平均值一致性检验法进行样品 的稳定性检验。检验中使用与定值方法相同的测量方法进行纯度的测量,最小样品取样量为 0.2 g。

检验结果表明该标准物质均匀性和稳定性良好。研制单位将持续跟踪监测该标准物质的稳定性, 如发现量值变化,将及时通知用户。

五、包装、储存及使用

本标准物质的包装为塑料盒,每盒一片( 40 mm×4 mm ),室温保存。样品使用前需进行清洗, 具体步骤为:1.用甲醇超声清洗 3 分钟,用纯水清洗 4 次,用混合酸(硝酸+氢氟酸:1+6)超声清  2.5 分钟,用纯水清洗 4 次,用纯水超声清洗 3 次,每次 1 分钟;用甲醇清洗 2 次,凉干待用。

附表高纯硅中杂质元素含量参考值(mg/kg)

元素 测量方法 量值 u 元素 测量方法 量值 u 元素 测量方法 量值 u
H 2 < 0.09 0.05 Se 1 < 0.0010 0.0005 Tb 1 < 0.0010 0.0005
He 4 < 0.001 0.0005 Br 1 0.003 0.006 Dy 1 < 0.0010 0.0005
Li 1 < 0.0010 0.0005 Kr 4 < 0.0010 0.0005 Ho 1 < 0.0010 0.0005
Be 1 < 0.0010 0.0005 Rb 1 0.004 0.008 Er 1 < 0.0010 0.0005
B 1 0.002 0.004 Sr 1 < 0.0010 0.0005 Tm 1 < 0.0010 0.0005
C 3 2.21 0.94 Y 1 < 0.0010 0.0005 Yb 1 < 0.0010 0.0005
N 2 < 0.86 0.43 Zr 1 < 0.0010 0.0005 Lu 1 < 0.0010 0.0005
O 2 1.49 0.29 Nb 1 < 0.0010 0.0005 Hf 1 < 0.0010 0.0005
F 1 0.008 0.016 Mo 1 < 0.0010 0.0005 Ta 1 < 0.0010 0.0005
Ne 4 < 0.0010 0.0005 Tc 1,4 < 0.0010 0.0005 W 1 < 0.0010 0.0005
Na 1 0.027 0.054 Ru 1 < 0.0010 0.0005 Re 1 < 0.0010 0.0005
Mg 1 < 0.0010 0.0005 Rh 1 < 0.0010 0.0005 Os 1 < 0.0010 0.0005
Al 1 < 0.0010 0.0005 Pd 1 < 0.0010 0.0005 Ir 1 < 0.0010 0.0005
P 1 0.002 0.004 Ag 1 0.003 0.006 Pt 1 < 0.0010 0.0005
S 3 < 1.5 0.75 Cd 1 0.002 0.004 Au 1 0.003 0.006
Cl 1 0.08 0.16 In 1 0.002 0.004 Hg 1 < 0.0010 0.0005
A r 4 < 0.0010 0.0005 Sn 1 0.002 0.004 Tl 1 < 0.0010 0.0005
K 1 0.013 0.026 Sb 1 < 0.0010 0.0005 Pb 1 0.001 0.002
Ca 1 0.008 0.016 Te 1 < 0.0010 0.0005 Bi 1 < 0.0010 0.0005
Sc 1 < 0.0010 0.0005 I 1 < 0.0010 0.0005 Po 1,4 < 0.0010 0.0005
Ti 1 < 0.0010 0.0005 Xe 4 < 0.0010 0.0005 At 1,4 < 0.0010 0.0005
V 1 < 0.0010 0.0005 Cs 1 < 0.0010 0.0005 Rn 1,4 < 0.0010 0.0005
Cr 1 0.002 0.004 Ba 1 < 0.0010 0.0005 Fr 1,4 < 0.0010 0.0005
Mn 1 0.003 0.006 La 1 < 0.0010 0.0005 Ra 1,4 < 0.0010 0.0005
Fe 1 0.006 0.012 Ce 1 < 0.0010 0.0005 Ac 1,4 < 0.0010 0.0005
Co 1 < 0.0010 0.0005 Pr 1 < 0.0010 0.0005 Th 1 < 0.0010 0.0005
Ni 1 < 0.0010 0.0005 Nd 1 < 0.0010 0.0005 Pa 1,4 < 0.0010 0.0005
Cu 1 0.017 0.034 Pm 1,4 < 0.0010 0.0005 U 1 < 0.0010 0.0005
Zn 1 0.021 0.042 Sm 1 < 0.0010 0.0005 Np 1,4 < 0.0010 0.0005
Ga 1 < 0.0010 0.0005 Eu 1 < 0.0010 0.0005 Pu 1,4 < 0.0010 0.0005
Ge 1 < 0.0010 0.0005 Gd 1 < 0.0010 0.0005 Am 1,4 < 0.0010 0.0005
As 1 0.013 0.026

注:

1:辉光放电质谱法 GDMS

2:惰性气体熔融-红外热导法

3:燃烧红外法

4:估算法



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