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产品信息
编号:NIM-RM6006 英文:
名称:镅-241钚-239 α表面发射率标准物质(放射性同位素镅-241、放射性同位素钋-239) 品牌:计量院
CAS: 分类:基础标准物质
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JLY-Φ35mm×1mm圆形 常温避光保存。本产品为定制产品,下单前需咨询客服 0 0.0 加入购物车
详细描述:(样板仅参考,具体需参照对应批次证书)

本标准物质含有特征放射性核素镅-241 和钚-239,由这两种放射性核素均匀分布在 1 mm 厚的 不锈钢衬底表面上组成,活性区域为直径Φ35 mm 的圆形。α粒子从本标准物质的活性区域表面均匀稳定出射。本标准物质主要可用于表面发射率测量设备的探测效率校准、量值比对、分析方法确认、 测量准确性检验等目的,适用于α能谱仪、低本底α测量仪、α表面污染仪或其它表面发射率测量仪器。

一、样品制备

该标准物质通过电沉积法制备。通过 HPGe γ谱仪和α谱仪进行原料溶液核纯度检验,原料溶液中γ杂质核素含量低于 0.1%,α杂质核素含量低于 0.1%。采用无机/有机电镀方法,将镅-241 和钚-239两种核素电镀在不锈钢衬底上。用水擦拭标准物质表面,活性物质无脱落。用磷屏法检验标准物质的均匀性,用α计数法检验标准物质的短期稳定性,确认在测量的统计范围内无不均匀、不稳定问题。

二、溯源性及定值方法

本标准物质的表面发射率量值由国家计量基准装置“2πα、2πβ粒子发射率基准装置”(国基证 [2002]第 096 号)通过无窗流气正比计数法定值,量值溯源至 SI 导出单位 s-1。基于该基准的测量能 力在α、β表面粒子发射率比对中取得等效,能够确保量值的计量溯源性和准确性。

三、特性量值及不确定度

名称

镅-241 钚-239 α表面发射率标准物质

核素

镅-241

钚-239

半衰期[1,2]

432.6 (6) 年

2.4100(11)×104

能量[1,2] (keV)

5442.86 (12)

5485.56(12)

5105.81(21)

5143.82(21)

5156.59(14)

发射概率[1,2]

13.23 (10)%

84.45 (10)%

11.87 (3)%

17.14 (4)%

70.79 (10)%

编号

Ap20081903

Ap20081901

Ap20081902

2π表面发射率,s-1

5.714×102

1.648×103

3.331×103

扩展不确定度,k=2

1.6%

1.6%

1.6%

参考日期

2020/8/20

2020/8/20

2020/8/20

标准值的不确定度考虑了由定值、样品均匀性、稳定性及有效期内按半衰期衰减所引入的分量。 本标准物质在其有效期内的衰减不超过 0.17%。

四、均匀性及稳定性评估

本标准物质均匀性评估参照 JJF1343 国家计量技术规范(等效 ISO 指南 35),采用方差分析法 对发射率的均匀性进行评估。将样品放置在磷屏成像板上照射,达到统计性要求后,用磷屏扫描仪 读取成像板上的图像。将图像从中心向外面分成 6 个对称区域,记录每个区域的灰度值,并对组间和组内的灰度值进行方差分析。评估结果表明,样品均匀性不超过 10%。

通过 2πα、2πβ粒子发射率基准装置开展不同时间间隔的多次测量,用趋势分析法评估表明本标 准物质的稳定性良好。本标准物质的效期定为 1 年。

五、包装、贮存及使用

本标准物质采用专用样品盒包装,其活性表面不易受到机械刮擦,量值稳定。标准物质应贮存在无酸碱化学腐蚀的保险柜内。该标准物质的使用应带上手套操作,将其放入仪器样品盘,注意不 要刮擦源的活性表面,也不要用有机溶剂擦拭活性表明,以免影响量值稳定。

六、其他说明

本标准物质为豁免量级放射性物质。本证书未做特殊说明的关于安全保障、运输和废物处置等内容,请严格按照辐射安全主管部门制定的其他管理和技术文件执行。

七、参考文献

[1]. Bé M.-M., Chisté V., Dulieu C., Mougeot X., Browne E., Chechev V., Kuzmenko N., Kondev F., Luca A., Galán M., Nichols A.L., Arinc A., Huang X., Table of radionuclides, Monographie BIPM-5,volume 5,2010

[2]. Bé M.-M., Chisté V., Dulieu C., Browne E., Chechev V., Kuzmenko N., Kondev F., Luca A., Galán M., Pearce A., Huang X., Table of radionuclides, Monographie BIPM-5,volume 4,2008


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