一、概述
本标准物质用于校正分析仪器，检验分析基体相类似的硼硅酸盐玻璃或其它物质时所用方法的可靠性和数据的准确性，以及质量认证。它可作为量值传递和仲裁分析的依据。
二、制备工艺
样品经过粉碎，高铝瓷球磨机研磨、混匀（粒度小于0.074mm占99.25%），装瓶，均匀性检验。
三、认定值和不确定度
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项目
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成 分（％）
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SiO2
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Al2O3
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Fe2O3
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TiO2
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CaO
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MgO
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K2O
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Na2O
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B2O3
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F
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L.O.I.
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标 准 值
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53.98
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14.50
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0.34
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0.19
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16.54
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4.40
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0.59
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0.096
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8.87
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0.54
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0.26
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标准偏差（S）
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0.14
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0.12
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0.01
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0.02
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0.09
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0.12
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0.04
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0.011
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0.11
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0.04
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0.04
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数据组数（N）
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10
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9
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9
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9
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9
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9
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9
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9
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9
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8
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9
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四、均匀性和稳定性检验
样品以分装的最小单元数N为基数，按2×
计算，随机取样进行均匀性检验，采用X射线荧光光谱分析法，对样品中的SiO2、Al2O3、B2O3、CaO、Na2O进行了均匀性检验，证明均匀性良好。最小称样量为0.1g。
在同一年测定了样品的稳定性，稳定性良好。以后每年定期检查，如果数据发生变化，随时通知用户。
五、特性量值的测量方法
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成 分
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分 析 方 法
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SiO2
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COL GR VOL XRF
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Al2O3
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VOL XRF
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Fe2O3
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AAS COL ICP XRF
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TiO2
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COL ICP XRF
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CaO
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AAS ICP VOL XRF
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MgO
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AAS ICP VOL XRF
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K2O
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AAS FP ICP XRF
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Na2O
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AAS FP ICP XRF
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B2O3
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ICP VOL
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F
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COL IC
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L.O.I
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GR 试样在550℃灼烧
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注：AAS 原子吸收分光光度法；COL 比色分析法；FP 火焰光度法；GR重量分析法； ICP等离子体发射光谱法；VOL 容量分析法；XRF X—射线荧光光谱法。
六、正确使用说明
分析前，样品需经105~110℃烘干2h。
七、运输和贮存
本标准物质包装在塑料瓶中，50g/瓶。样品保存在阴凉、干燥处。